可測實際應(yīng)用的所有鍍層
? 利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層
? 符合標準：DIN EN ISO 2177

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更新時間：2024-05-30
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德國EPK公司庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST

• 可測實際應(yīng)用的所有鍍層
• 利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層
• 符合標準：DIN EN ISO 2177

GALVANOTEST 可以測量	2000	3000
可以測量70種以上鍍層/基體組合	●	●
可以測量平面、曲面上的鍍層	●	●
可以測量小零件、導線、線狀零件	●	●
預置10種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金（需提供樣品確定）		●
預置9種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。	●
用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù)		●
用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù)	●
測量機構(gòu)：
帶循環(huán)泵		●
帶氣泵	●
測量面積：
密封墊 8 mm2	●
密封墊 4 mm2	●	●
密封片 1 mm2	●	●
密封片 0.25 mm2（涂鍍層面積幾乎小得看不見）		●
電解杯 0.25-16 mm2 （可選件）	●	●
*測量參數(shù)化調(diào)整：**
除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)	●	●
根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù)	●	●
可用厚度標準樣板校準	●	●
可調(diào)整終點電壓，以抗干擾，適應(yīng)鍍層/基體之間的合金	●	●
GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲
可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目	10	18
可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值	2000	2000
儀器斷電后可保持所有校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。	●	●
統(tǒng)計計算：
顯示6種統(tǒng)計值：均值、標準偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小值、讀數(shù)個數(shù)	●	●
立即或稍后顯示統(tǒng)計值	●	●
立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值		●
顯示、打印年、月、日、時、分	●	●
用于外設(shè)的計算機接口：
MINIPRINT 微型打印機接口	●	●
RS-232，PC計算機接口	●	●
連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口	●	●
電解液飽和報警指示		●
測量的不確定性：
5%，在8mm2面積下，經(jīng)校準	●	●
電源：
110/220V，50/60HZ，10W	●	●
測量范圍：
zui大測量范圍：0.05-75μm	●	●

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